Detalles MARC
| 000 -CABECERA |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
00784nam a2200265 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Campo de control |
005386 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Campo de control |
Cod_FCEFN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| Campo de control |
20160828000412.0 |
| 008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
081201s1965 nyu||||||||||_||||||spa|d |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN |
|---|
| Agencia de catalogación original |
Cod_FCEFN |
| Agencia que realiza la transcripción |
AR-CdUFC |
| 080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL |
|---|
| Número de CDU |
548.73 |
| 100 1# - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre de persona |
Buerger, Martin Julian |
| 9 (RLIN) |
3374 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
X-Ray Crystallography : |
| Parte restante del título |
an introduction to the investigation of crystals / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Martin Julian Buerger. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC (PIE DE IMPRENTA) |
|---|
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
New York, NY : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Wiley J., |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
1965 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
531 p. |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Geología |
| 9 (RLIN) |
163 |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Ciencias de la tierra |
| 9 (RLIN) |
164 |
| 650 14 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Ondas |
| 9 (RLIN) |
2090 |
| Subdivisión general |
Difracción |
| 650 14 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Cristales |
| 9 (RLIN) |
709 |
| 650 14 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Mineralogía |
| 9 (RLIN) |
496 |
| 650 14 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Cristalografía |
| 9 (RLIN) |
708 |
| 650 14 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Cristalografía por rayos X |
| 9 (RLIN) |
3375 |
| 942 ## - ELEMENTOS KOHA |
|---|
| Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías |
Universal Decimal Classification |
| Koha tipo de item |
Libro, folleto, traducción |
| 945 ## - LOCAL PROCESSING INFORMATION (OCLC) |
|---|
| a |
MES |